Увод у карактеристике скенирајућег електронског микроскопа
Скенирајући електронски микроскоп (СЕМ) је велики прецизни инструмент који се користи за анализу морфологије микро области високе резолуције. Има карактеристике велике дубине поља, високе резолуције, интуитивног снимања, снажног осећаја за тродимензионалност, широког опсега увећања и могућности ротације и нагињања тестног узорка у тродимензионалном простору. Поред тога, има предности широког спектра мерљивих типова узорака, скоро да нема оштећења или контаминације оригиналног узорка, као и могућност истовременог добијања морфологије, структуре, састава и кристалографских информација. Тренутно се скенирајућа електронска микроскопија широко користи у микроскопским истраживањима у областима као што су науке о животу, физика, хемија, правосуђе, науке о Земљи, наука о материјалима и индустријска производња. Само у области наука о Земљи, обухвата кристалографију, минералогију, минерална лежишта, седиментологију, геохемију, гемологију, микрофосиле, астрогеологију, геологију нафте и гаса, инжењерску геологију и структурну геологију.
Иако је скенирајућа електронска микроскопија новина у породици микроскопа, њена брзина развоја је веома брза због бројних предности.
Инструмент има високу резолуцију и може посматрати детаље од око 6 нм на површини узорка кроз секундарно снимање електрона. Коришћењем ЛаБ6 електронског пиштоља, може се додатно побољшати на 3нм.
Инструмент има широк спектар промена увећања и може се континуирано подешавати. Због тога се по потреби могу одабрати различите величине видних поља за посматрање, а јасне слике са великом осветљеношћу које је тешко постићи општом трансмисијском електронском микроскопијом такође се могу добити при великом увећању.
Дубина поља и видно поље узорка су велики, а слика је богата тродимензионалним смислом. Може директно да посматра грубе површине са великим таласима и неуједначеним сликама лома метала узорка, дајући људима осећај да су присутни у микроскопском свету.
Припрема 4 узорка је једноставна. Све док су узорци блокова или праха мало третирани или необрађени, они се могу директно посматрати под скенирајућим електронским микроскопом, што је ближе природном стању супстанце.
5. Квалитет слике се може ефикасно контролисати и побољшати путем електронских метода, као што су аутоматско одржавање осветљености и контраста, корекција угла нагиба узорка, ротација слике или побољшање толеранције контраста слике кроз И модулацију, као и умерено осветљење и тама у разне делове слике. Коришћењем уређаја за двоструко увећање или селектора слике, слике са различитим увећањима могу се истовремено посматрати на флуоресцентном екрану.
6 може бити подвргнута свеобухватној анализи. Инсталирајте спектрометар рендгенских зрака са дисперзијом таласне дужине (ВДКС) или енергетски дисперзивни рендгенски спектрометар (ЕДКС) да бисте му омогућили да функционише као електронска сонда и детектује рефлектоване електроне, рендгенске зраке, катодолуминисценцију, емитоване електроне, Ожеове електроне итд. по узорку. Проширивање примене скенирајуће електронске микроскопије на различите методе микроскопске и микрообластне анализе показало је мултифункционалност скенирајуће електронске микроскопије. Поред тога, такође је могуће анализирати одабране микро области узорка док се посматра морфолошка слика; Инсталирањем полупроводничког држача узорка, ПН спојеви и микро дефекти у транзисторима или интегрисаним колима могу се директно посматрати преко појачивача слике електромоторне силе. Због имплементације електронског рачунара аутоматске и полуаутоматске контроле за многе скенирајуће електронске микроскопске електронске сонде, брзина квантитативне анализе је знатно побољшана.
