Метода подешавања металографског микроскопа,
Металографски микроскоп је савршена комбинација технологије оптичког микроскопа, технологије фотоелектричне конверзије и технологије компјутерске обраде слике која се развија у високотехнолошки производ, који може лако да посматра металографске слике са рачунара, и металографске атласе, оцене, излазну графику, штампање итд. Као што сви знамо, састав легуре, термичка обрада...
Металографски микроскоп је савршена комбинација технологије оптичког микроскопа, технологије фотоелектричне конверзије и технологије компјутерске обраде слике која се развија у високотехнолошки производ, који може лако да посматра металографске слике са рачунара, и металографске атласе, оцене, излазну графику, штампање итд. Као што сви знамо, састав легуре, топлотна обрада и технологија топле и хладне обраде директно утичу на промену структуре унутрашњег механизма металног материјала, тако да се мењају механичка својства дела. Због тога је постало важно средство индустријске производње посматрање и инспекција унутрашње механизме структуре метала анализом металографског микроскопа. Дакле, који је метод подешавања и коришћења металографског микроскопа? Следећи уредник ће вам га представити.
Метода подешавања металографског микроскопа:
1. 10к подешавање објектива
У процесу примене металографског микроскопа, сочиво објектива 10к је стандардно уобичајено сочиво објектива у раду фокусирања. У почетку се ради са сочива објектива од 10к на сочиво објектива са мањим увећањем, или, преласком са сочива објектива од 10к на сочиво са већим увећањем, неће бити драстичне промене. Још једна ствар је да је дубина фокуса сочива објектива са мањим увећањем дуга, а голи вид посматрача није у центру по вољи, а контакт између узорка и сочива може се лако десити када се директно пребаци на објектив са великим увећањем. сочиво.
10к објектив објектива није само стандардни уобичајени објектив у раду фокусирања, већ укључује и много у практичном раду. На пример, у многим релевантним националним стандардима за металографску инспекцију, најчешће је упоређивати референтне стандардне спектре под условом 100 пута посматрања, а добијање 100 пута долази од 10 пута објектива и 10 пута окулара. Почевши од теоријске контроле, све док није насумична или злонамерна, следећа контролна акција треба да буде постављање сочива објектива близу жижне равни. Под условом 10к објектива, након што је узорак правилно постављен, требало би да постоји замућена слика, или чак релативно јасна слика. , само мало одржавања и финог подешавања.
2. Релевантан улаз и излаз
По питању фокусирања након преласка са објектива са малим увећањем на сочиво објектива са великим увећањем, због побољшања тренутног процеса производње микроскопа, парфокалне перформансе различитих сочива објектива микроскопа су релативно добре, посебно за производе из иностранства. Када посматрате, понекад не морате поново да се фокусирате. Слика је већ врло јасна; можда, само мало повећајте растојање објекта, а степен подешавања дефинитивно није концепт 1~3 круга, односно концепт 1~3 степена (угао), што је изузетно компликовано. количина.
3. О претварачу сочива објектива
Када мењате сочиво објектива, немојте гурати сочиво објектива директно руком, иначе је лако изазвати да се навој завртња снажног сочива објектива олабави и да се оптичка оса нагне. Објектив микроскопа и систем микроскопске дигиталне камере су причвршћени на претварач сочива објектива. Када мењате различита сочива објектива, мењајте претварач сочива објектива све док уши не чују благи звук „клик“ и осете да се отпор нагло повећава. У овом тренутку, сочиво објектива је у нормалном радном положају: окомито на раван позорнице.
Наведени садржај представља увод у подешавање и употребу металографских микроскопа. Металографски микроскопи се посебно користе за посматрање непрозирних објеката као што су метали и минерали. Ови непрозирни објекти се не могу посматрати у обичним микроскопима који пролазе светлост. Главна разлика између металографских микроскопа и обичних микроскопа је у томе што је први осветљен рефлектованом светлошћу, док је други осветљен пропуштеном светлошћу. У металографском микроскопу, светлосни сноп се пројектује из правца сочива објектива на површину објекта који се посматра, рефлектује се од површине објекта и затим се враћа у сочиво објектива ради снимања. Ова метода рефлектованог осветљења се такође широко користи у детекцији силиконских плочица интегрисаног кола.
