Разлика између микроскопа атомске силе и оптичког микроскопа и електронског микроскопа
Главна разлика између АФМ-а и конкурентских технологија као што су оптичка и електронска микроскопија је у томе што АФМ не користи сочива или снопове светлости. Дакле, није ограничен просторном резолуцијом због дифракције и аберација и не захтева припрему простора за усмеравање зрака (стварањем вакуума) и бојење узорка.
Постоји неколико типова микроскопа за скенирање, укључујући микроскопију за скенирање сонде (укључујући АФМ, скенирајућу тунелску микроскопију (СТМ) и скенирајућу оптичку микроскопију у блиском пољу (СНОМ/НСОМ), СТЕД микроскопију (СТЕД), као и скенирајућу електронску микроскопију и електрохемијску атомску микроскопију). микроскопија силе ЕЦ -АФМ). Иако СНОМ и СТЕД осветљавају узорке видљивом, инфрацрвеном, па чак и терахерц светлошћу, њихова резолуција није ограничена границом дифракције.
