Пренос и епи-осветљење микроскопа за инструменте за металографску анализу
Методе осветљења микроскопа за инструменте за металографску анализу се генерално деле у две категорије: „трансмисивно осветљење“ и „епископско осветљење“. Први је погодан за провидне или провидне предмете, а већина биолошких микроскопа припада овој врсти методе осветљења; ово друго је погодно за нетранспарентне објекте, а извор светлости долази одозго, познат и као "рефлективно осветљење". Главне примене са металографском микроскопијом или флуоресцентном микроскопијом.
1. Транс-илуминација
Биолошки микроскопи се углавном користе за посматрање провидних узорака и морају бити осветљени пропуштеном светлошћу. Постоје две методе осветљења
(1) Критично осветљење Након што извор светлости прође кроз кондензатор, слика се на равни објекта, као што је приказано на слици 5. Ако се занемари губитак светлосне енергије, осветљеност слике извора светлости је иста као и светлост сам извор, тако да је овај метод еквивалентан постављању извора светлости на раван објекта. Очигледно, у критичном осветљењу, ако осветљеност површине извора светлости није уједначена, или очигледно показује мале структуре, као што су филаменти, итд., онда ће ефекат посматрања микроскопа бити озбиљно погођен, што је недостатак критично осветљење. Лек је да се испред извора светлости поставе млечно бели филтери у боји и филтери у боји који апсорбују топлоту како би осветљење било уједначеније и избегло оштећење објекта који се прегледа услед дуготрајног зрачења извора светлости. Када је осветљен пропуштеном светлошћу, угао бленде снопа слике објектива је одређен углом бленде квадратног снопа кондензаторског огледала. Да би се у потпуности искористио нумерички отвор сочива објектива, кондензаторско сочиво треба да има исти или мало већи нумерички отвор као и сочиво објектива.
(2) Кола осветљење Недостатак неравномерног осветљења на површини објекта у критичном осветљењу може се елиминисати код Кола осветљења. Помоћно кондензаторско сочиво 2 се додаје између извора светлости 1 и кондензаторског сочива 5, као што је приказано на Сл. 6 . Види се да је видно поље (узорак) сочива објектива једнолико осветљено јер извор светлости није директно осветљен, али је помоћни кондензатор 2 (који се назива и Коларово огледало) равномерно осветљен извором светлости приказан на слици. примерак 6.
2. епи-осветљење
Када се посматрају непрозирни објекти, као што је посматрање металних брусних дискова кроз металографски микроскоп, често се осветљава са стране или одозго. У овом тренутку, на површини предмета који се посматра, нема покровног стакла, а слика узорка се ствара рефлектованом или расејаном светлошћу која улази у сочиво објектива.
3. Метода осветљења за посматрање честица коришћењем тамног поља
Ултрамикроскопске честице се могу посматрати методом тамног поља. Такозване ултрамикроскопске честице се односе на оне ситне честице које су мање од границе резолуције микроскопа. Принцип осветљења тамног поља је: не дозволите да светлост главног осветљења уђе у сочиво објектива, а само светлост распршена честицама може ући у сочиво објектива ради снимања. Стога је слика светлих честица дата на тамној позадини. Иако је позадина видног поља тамна, контраст (контраст) је веома добар, што може побољшати резолуцију.
Осветљење тамног поља може се поделити на једносмерно и двосмерно
(1) Једносмерно осветљење тамног поља Слика 8 је шематски дијаграм једносмерног осветљења тамног поља. Са слике се може видети да након што се светлост коју емитује осветљивач 2 рефлектује од непрозирног узорка 1, главна светлост не улази у сочиво објектива 3, а светлост која улази у сочиво објектива се углавном распршује честицама или неравномерно детаљима. Очигледно, ово једносмерно осветљење тамног поља је ефикасно за посматрање постојања и кретања честица, али није ефикасно за репродукцију детаља објеката, односно постоји феномен „изобличења“.
(2) Двосмерно осветљење тамног поља Двосмерно осветљење тамног поља може елиминисати дефект изобличења изазвану једносмерним. Испред уобичајеног кондензатора са три сочива, поставите прстенасту дијафрагму, као што је приказано на слици 9, да бисте остварили двосмерно осветљење тамног поља. Течност је уроњена између последњег комада кондензатора и стакла објектива, док је простор између покривног стакла и сочива објектива сув. Због тога је инструмент за металографску анализу опремљен трансмисионим и епи-тип осветљењем микроскопа, а прстенасти сноп који пролази кроз кондензатор се потпуно рефлектује у покривно стакло и не може ући у сочиво објектива, формирајући коло као што је приказано на слици. . Само светлост расејана честицама на узорку улази у сочиво објектива, формирајући двосмерно осветљење тамног поља. За друге сродне инструменте као што су анализатор растопљеног гвожђа, анализатор угљеничног силицијума, итд., молимо консултујте Одељење за технологију Тонгпу.
