Које супстанце се углавном користе за посматрање помоћу скенирајућих електронских микроскопа?
Скенирајући електронски микроскоп (СЕМ) је измишљен 1965. године и углавном се користи за истраживање биологије ћелије. Углавном користи секундарно снимање електронског сигнала за посматрање морфологије површине узорка, односно користи изузетно узак електронски сноп за скенирање узорка. Интеракција са узорком производи различите ефекте, међу којима су главни секундарни електрони узорка.
Секундарни електрони могу произвести увећану топографску слику површине узорка. Ова слика се успоставља у временском низу када се узорак скенира, односно увећана слика се добија коришћењем слике тачка по тачку.
Скенирајућа електронска микроскопија (СЕМ) је метода посматрања микроскопске морфологије између трансмисионе електронске микроскопије и оптичке микроскопије. Може директно да користи својства материјала површинских материјала узорка за микроскопско снимање. Предности скенирајућег електронског микроскопа су: ① Има велико увећање, које се непрекидно подешава између 20 и 200,000 пута; ② Има велику дубину поља, велико видно поље и тродимензионалну слику и може директно да посматра неравне површине различитих узорака. Фина структура; ③ Припрема узорака је једноставна. Актуелни скенирајући електронски микроскопи опремљени су уређајима за спектрометар рендгенске енергије, који могу истовремено да посматрају морфологију микроструктуре и анализу компоненти микрорегиона (тј. СЕМ-ЕДС), тако да је данас један од најважнијих научноистраживачких инструмената.
⑴ Биологија: семе, полен, бактерије...
⑵Медицина: крвне ћелије, вируси...
⑶Животиње: дебело црево, ресице, ћелије, влакна...
⑷ Материјали [1]: Керамика, полимери, прахови, метали, металне инклузије, епоксидна смола...
⑸Хемија, физика, геологија, металургија, минерали, муљ (бацили), машине, мотори и проводни узорци, као што су полупроводнички (ИЦ, мерење ширине линије, попречни пресек, посматрање структуре...) електронски материјали, итд.
