Примена микроскопа у стратешкој индустрији ЛЕД диода у настајању
ЛЕД (Лигхт-Емиттинг Диоде) је скраћени назив за диоде које емитују светлост. Почевши од друге половине 2009. године, ЛЕД тржиште је доживело брзи скок. Као високо растућа индустрија у настајању, очекује се да ће обим кинеске ЛЕД индустрије премашити 500 милијарди јуана до 2015. године, укључујући 160 милијарди јуана за опште осветљење, 120 милијарди јуана за позадинско осветљење ЛЦД ТВ-а великих димензија, 20 милијарди јуана за аутомобилско осветљење и 100 милијарди јуана за друге секторе, апликације за екране и пејзажно осветљење.
Индустријски ланац ЛЕД диода може се грубо поделити на три дела: узводни раст супстрата и производња епитаксијалне плочице, паковање чипова средњег тока и производи за даље примену. У целом индустријском ланцу, главни делови леже у расту супстрата и производњи епитаксијалних плочица, које карактеришу релативно висок технолошки садржај и чине скоро 70% вредности производње и профита индустрије.
Тренутни трендови развоја ЛЕД индустрије
На које утичу међународна и домаћа тржишта и вођениНационални пројекат полупроводничког осветљења, кинеска ЛЕД индустрија је у почетку формирала релативно комплетан индустријски ланац који покрива узводне ЛЕД материјале супстрата, производњу ЛЕД епитаксијалних плочица, припрему ЛЕД чипова, паковање ЛЕД чипова и примену ЛЕД производа.
Добро је познато да полупроводничке светлеће диоде нуде предности као што су висока ефикасност конверзије енергије и дуг радни век, и сматрају се извором светлости следеће генерације који ће заменити традиционалне изворе светлости који су тренутно у употреби. Међутим, судећи по тренутним перформансама светлећих диода, још увек је потребно превазићи многе техничке изазове да би се постигао овај циљ, што захтева интензивирана истраживања у анализи и карактеризацији материјала, технологији анализе уређаја и другим пољима.
У анализи структуре паковања ЛЕД уређаја, као и структуре, састава и услова интерфејса чипова, инструменти укључујући оптичке микроскопе, скенирајуће електронске микроскопе (СЕМ), енергетски дисперзивну рендгенску спектроскопију (ЕДС) и секундарну јонску масену спектрометрију (СИМС) постали су незаобилазни и алати за оптимизацију, аналитичку анализу и праћење кварова. епитаксијални процеси.
