Микроскоп помаже у вишеструким прегледима димензија батерија
Настали у 17. веку, оптички микроскопи користе таласну дужину видљиве светлости за увећање објеката до микронске резолуције и широко се користе у науци о животу, науци о материјалима и другим областима. У области батерија, може посматрати структуру електрода, открити дефекте електрода и раст литијум дендрита, и пружити драгоцене податке за истраживање и развој батерија. Међутим, има ограничен опсег посматрања због ограничења таласне дужине видљиве светлости, што је добро решено електронском микроскопом
Представљен 1931. године, електронски микроскоп користи електронски сноп да увећа објекат за фактор од 3 милиона да би постигао нанометарску резолуцију. Због веће резолуције електронског микроскопа, у батерији Р & Д, са различитим сондама, може добити вишедимензионалне информације (састав, информације о карактеризацији, величина честица, однос састава, итд.), како би се постигли позитивни и негативни материјали електроде , проводни агенси више микроструктура као што су лепкови и детекција дијафрагме (посматрање морфологије материјала, стања дистрибуције, величине честица, присуства дефеката итд.)
▲ СЕМ слике позитивних и негативних материјала батерија, проводних агенаса, везива и дијафрагми Извор: Зеисс (тестирано са Зеисс електронским микроскопом)
Скенирајући електронски микроскоп због своје високе резолуције. Скенирајући електронски микроскоп. Може јасно одражавати и снимити морфологију површине материјала, постајући тако једно од најпогоднијих средстава за карактеризацију морфологије материјала
Инспекција батерије: Од 2Д до 3Д
Иако је 2Д планарна инспекција једноставна и ефикасна, понекад може бити пристрасна. 3Д сликање омогућава програмерима интуитивније резултате инспекције, побољшавајући ефикасност и перформансе развоја батерија.
Конкретно, технологија рендгенске микроскопије, као што је серија Зеисс Ксрадиа Верса, омогућава 3Д недеструктивно снимање унутрашњости батерије високе резолуције, разликовање између честица електроде и пора, дијафрагме и ваздуха, итд., што може у великој мери поједноставите процес и уштедите време
▲Снимање унутрашњости ћелије у високој резолуцији (скенирање целог узорка - одабир области од интереса - зумирање и извођење снимања у високој резолуцији) Заслуге: ЗЕИСС (тестирано са ЗЕИСС КСРадиа Верса рендгенским микроскопом)
Надовезујући се на ово, ЗЕИСС уводи метод карактеризације четвородимензионалне еволуције ткива који омогућава добијање више информација и пружа финије детаље
Технологија фокусираног јонског снопа (ФИБ) следеће генерације је пожељан избор када су потребне даље анализе високе резолуције. ФИБ у комбинацији са СЕМ омогућава фину обраду и посматрање узорака на наноскали. Зеисс и Тхермо Фисхер су лансирали сродне микроскопске производе
4. Ин-ситу тестирање ћелија и апликације повезане са више технологија
Једна метода испитивања често не карактерише у потпуности својства материјала. Због тога је индустрија усвојила различиту опрему за тестирање како би заједно радила на постизању корелације више метода, што заузврат омогућава добијање вишедимензионалних информација током тестирања, чинећи резултате интуитивнијим.
У почетку, полазна тачка за корелацију више метода била је потреба да се посматра објекат који се тестира у различитим резолуцијама. Коришћењем ЦТ→Рентген микроскопије→ФИБ-СЕМ, одабиром области и постепеним зумирањем, могу се добити свеобухватније и тачније информације, док се брзо позиционирање може остварити, чинећи тестирање ефикаснијим
▲Мулти-сцале корелациона анализа анодних материјала
У циљу постизања мулти-сцале анализе на лицу места, као што су ВИТец (Немачка), Тесцан (Чешка Република) и Зеисс су лансирали РИСЕ систем, који реализује комбиновану примену Раман слике и СЕМ технологије. Комбинацијом топографије површине ћелије (СЕМ), дистрибуције елемената (ЕДС) и информација о молекуларном саставу материјала електроде (Раманово мапирање)
