Који микроскоп се користи за истраживање графена
Наравно, то је микроскоп атомске силе (АФМ). Гледајући мапу висине, један слој графена је мањи од 1 нм. Треба рећи да је АФМ најпогодније средство за карактеризацију графенских материјала. Наравно, треба водити рачуна о разликовању прашине, соли и молекула графена током АФМ карактеризације.
Наравно, оптичка микроскопија и скенирајућа електронска микроскопија (СЕМ) такође се могу користити за карактеризацију графена. Постоји и трансмисиони електронски микроскоп високе резолуције ХРТЕМ који може видети атомску слику графена у саћу и може видети дефекте графенског оксида након редукције.
Данас, квалитет књига које састављају многи научници постаје све гори и лошији, али је „Структура графена, метода припреме и карактеризација перформанси“ коју су уредили научници са Универзитета Тсингхуа и даље разумна. Постоје неке грешке у књизи, које не утичу на референцу. У поређењу са неким књигама Много је боље саставити велики број докумената без логичких правила да бисте показали колико сте докумената прочитали.
